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SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)反射率測量儀

SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)反射率測量儀
可實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域和曲面的反射率測量。
可直接測量未經(jīng)處理的透明薄板的反射率，并能幾乎不受底面反射的影響；可快速高精度測量曲面和平面的反射率。

  • 產(chǎn)品型號：SGRM-200N
  • 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間：2024-11-30
  • 訪  問  量：718
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產(chǎn)品詳情

SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)反射率測量儀

可實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域和曲面的反射率測量。

可直接測量未經(jīng)處理的透明薄板的反射率，并能幾乎不受底面反射的影響；可快速高精度測量曲面和平面的反射率。

采用了特殊結(jié)構(gòu)的半透鏡，能高效地收集被測試樣的反射光，并高效地導(dǎo)入分光光度計(jì)，可快速地完成低反射率樣品的測量。
采用了特殊的光學(xué)結(jié)構(gòu)，有效地避免了底面反射的影響，可直接測量未經(jīng)處理的透明薄板的反射率。
(使用20倍物鏡時(shí)，可測最小透明薄板厚度可達(dá)0.3mm）
采用了特殊鹵素?zé)艉?創(chuàng)的光學(xué)設(shè)計(jì)，其有效光量大，獲取數(shù)據(jù)快，重復(fù)精度高。
測量點(diǎn)小(典型值為φ50μm)，可直接測曲面，以及膜層的分布特性。
結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，不占空間。
可用Microsoft® Excel®文件格式保存測量數(shù)據(jù)。
可在同一窗口內(nèi)，同時(shí)顯示多個(gè)樣品的測量結(jié)果(曲線)，
方便數(shù)據(jù)的對比分析。
采用峰值跟蹤技術(shù)，提高了反射率的重復(fù)測量精度
技術(shù)指標(biāo)
型號SGRM-200N
測定波長范圍380 ? 1050nm
樣品側(cè)N.A0.22(使用10倍物鏡時(shí))
0.44(使用20倍物鏡時(shí))
測量光斑尺寸約φ25μm（使用10倍物鏡時(shí)）
樣品的曲率半徑-2mm～-∞,+2mm～∞
再現(xiàn)性精度±0.2％ (380 ? 450nm)
±0.02％ (451 ? 950nm)
±0.2％ (951 ? 1050nm)
顯示分辨率1nm
測量時(shí)間數(shù)秒（受選定的采樣時(shí)間影響）
外形尺寸(本體）270(W)×465(D)×615(H)mm (不含突出部）
工作溫度范圍18 ? 28℃
工作濕度范圍60%以下（無結(jié)露現(xiàn)象）


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測試結(jié)果顯示例



外形圖 （單位：mm）






















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